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MEMD-2000 SF6密度繼電器校驗儀干擾物質

來源：bbwupositioning.com 更新時間：2018-11-12

MEMD-2000 SF6密度繼電器校驗儀干擾物質
a.固體雜質及油污。絕對不溶于水的固體雜質不會改變氣體的露點,但會妨礙對出露的觀測。在自動儀器中,對鏡面污染如果沒有采用補償裝置,在低露點測量時,有時會因鏡面上附著固體雜質使測得的露點值偏高,這時需用適當溶劑對鏡面人工清洗。為了防止固體雜質的干擾,zui好在儀器入口設置不吸附水分的過濾器。
如果被測氣體中有油污,應在氣體進入測量室前除去。
b.以蒸氣形式存在的雜質。如果氣體中以蒸氣形式存在的雜質(如烴類)會先于水蒸氣而結露,或者氣體中含有能與水共同在鏡面上凝結的物質(如甲醇),則必須先采取措施除掉。如果烴類的露點低于水蒸氣的露點,則不會影響測定。通常在SF6的測定中,不需考慮蒸氣雜質的干擾。
2)冷壁效應。除冷鏡外,儀器其余部分和管道的溫度應高于氣體露點至少2℃,否則水蒸氣將在zui冷點凝結,從而改變氣體樣品中的水分含量。
3)流量控制。由于氣體露點和流量無關,一般露點儀不要求準確調節流量,但通常仍有一定范圍的限制。流量太小則響應時間過長,太大既易引起制冷元件功率不足而影響鏡面降溫,又會在管線上產生壓力降,改變測量室內的壓力,從而改變氣體的露點。
4)降溫速度。如果氣體濕度很低,冷卻鏡面時降溫速度應盡可能慢。因為這時冰的結晶過程比較緩慢,若以不適當的速度降溫,在冰層生長和達到穩定之前,還沒有觀測到出露,溫度卻已大大低于露點,這就是過冷現象。光電露點儀通常不能人工控制降溫速度,所以在低露點測量時,儀器示值往往呈阻尼振蕩趨勢變化,需經過較長時間才能穩定。這就是露的凝結和消失滯后于溫度的變化而引起的。
5)帶壓測量。露點測量通常是在常壓下進行的,即先將待測氣體減壓至常壓后再送入測量室,但如氣體濕度很低,有可能出現氣體露點低于儀器測量下限的情況。特別是在炎熱的夏季,高溫環境影響了儀器制冷系統能夠達到的zui低溫。在這種情況下,可進行帶壓測量,提高測量室內氣體的壓力,從而提高氣體的露點使其在儀器的測量范圍內,zui后再通過計算得到常壓下的露點。
通常露點儀測量室的進出口各有一個流量閥,常壓測量時,出口閥全開,用進口閥控制流量并起減壓的作用,使測量室內的壓力與大氣壓相等。帶壓測量時,則進口閥全開,用出口閥控制流量,此時流量室內的壓力與取樣管道內的壓力相等。要進行帶壓測量,首先必須確定儀器允許在帶壓下工作,另外還需要比較準確的知道管道內氣體的壓力(如果儀器測量室內不帶壓力傳感器)。
6)露點與霜點的區分。鏡面溫度在0--20℃時,鏡面上的冷凝物可能是露(過冷試水),也可能是霜(冰),此時必須通過鏡面冷凝狀態觀察鏡仔細區別,因為相同溫度下的過冷水和冰的飽和蒸氣壓并不相同。一些適合現場使用的露點儀沒有觀察鏡,無法區分露和霜,在這種情況下一般當作霜點處理。